Resource Kit für Hardware-in-the-Loop-Anwendungen

Technische Tutorials zu Hardware-in-the-Loop-Anwendungen

Whitepaper Cover: National Instruments Corporation

Erfahren Sie mehr über HIL-Prüfsystemarchitekturen, die Auswahl der I/O-Schnittstellen für HIL-Testsysteme und die Verwendung von Fault Insertion Units (FIU) für elektronische Tests.

Dieses Whitepaper befasst sich mit der leistungsfähigen Methode der Hardware-in-the-Loop (HIL)-Simulation, und wie Sie Embedded-Control-Systeme effizienter testen können.

Aus Gründen der Sicherheit, Verfügbarkeit oder Kosten ist es unmöglich, alle erforderlichen Tests mit dem vollständigen eingebetteten Steuerungssystem durchzuführen. Mithilfe der HIL-Simulation können Sie Teile des Systems simulieren, die diese Herausforderungen darstellen.

Wir freuen uns über Ihr Interesse am Whitepaper!
Mit nur einem Klick auf den Button können Sie sich das Whitepaper kostenfrei herunterladen. Interessante Einblicke wünscht Ihnen Ihr Automobil Industrie-Team.
 

Anbieter des Whitepapers

National Instruments Corporation (UK) Ltd.

Measurement House
RG14 2PZ Newbury
England

Whitepaper Cover: National Instruments Corporation

 

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